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中興與Altair完成LTE IODT測試

摘要:據國外媒體報道,中興通訊與半導體廠商Altair在各自的產品上完成了廣泛的系統級互操作性和互用性測試(IODT)。這一測試的成功證實了這兩家公司的LTE產品的性能和成熟度,不久后雙方將進行現網測試。
C114訊 北京時間2月18日凌晨消息(蔣均牧)據國外媒體報道,中興通訊與半導體廠商Altair在各自的產品上完成了廣泛的系統級互操作性和互用性測試(IODT)。這一測試的成功證實了這兩家公司的LTE產品的性能和成熟度,不久后雙方將進行現網測試。 

        測試在中興的LTE基站設備與Altair最近發布的FourGee LTE USB ExpressCard UE之間進行。 

        據C114了解,截至2009年底,中興已累計申請了1700多件LTE/SAE專利,并將成為LTE/SAE標準基本專利的主要擁有者之一。

        據Altair的資料顯示,FourGee LTE USB ExpressCard UE解決方案基于公司的FourGee-3100/6200寬帶/RFIC LTE芯片,提供下行100Mbps和上行50Mbps的峰值速率,可在2700MHz頻段間支持FDD/TDD LTE。

內容來自:C114
本文地址:http://www.welmoon.com//Site/CN/News/2010/02/19/20100219070117111875.htm 轉載請保留文章出處
關鍵字: 中興 Altair/
文章標題:中興與Altair完成LTE IODT測試
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